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產(chǎn)品中心少子壽命測(cè)試儀（MDP）HT picts高溫少子壽命測(cè)量系統(tǒng)
HT picts高溫少子壽命測(cè)量系統(tǒng)，用于寬禁帶材料在高溫區(qū)間的非接觸、無(wú)損傷的溫度依賴型測(cè)量，涵蓋少子壽命、電學(xué)特性表征及深能級(jí)缺陷研究。（涵蓋瞬態(tài)模式μPCD、穩(wěn)態(tài)模式MDP、微波光電導(dǎo)等方法，符合SEMI PV9-1110 半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn)）。
更新時(shí)間：2026-03-16
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